Меню

Оптический Контроль Композитов (Шеарография)

  • 30.11.2025
  • Познавательное
Таблица 1. Основные технические характеристики метода шеарографии
Параметр Значение Примечание
Чувствительность к деформациям Субмикрометровый диапазон Регистрация градиентов смещений менее 1 микрометра
Тип регистрируемых величин Производные смещений поверхности Измерение градиента деформаций делает метод нечувствительным к вибрациям
Скорость сбора данных В реальном времени С частотой видеорегистрации до 30-60 кадров в секунду
Источник излучения Когерентный лазер Гелий-неоновый лазер 632,8 нм или диодный лазер 532-650 нм
Оптическая система Интерферометр с оптическим сдвигом Чаще всего интерферометр Майкельсона с поворотным зеркалом
Область контроля Полномасштабная Одновременный анализ всей видимой поверхности объекта
Тип контроля Бесконтактный Отсутствие физического контакта с исследуемым объектом
Параметры приведены для типовых лабораторных и промышленных систем согласно ASTM E2581-14(2023). Конкретные значения зависят от модели оборудования.
Таблица 2. Типы нагружения при шеарографическом контроле композитов
Тип нагружения Оптимальное применение Преимущества Ограничения
Тепловое (ИК-лампы) Углепластики, сэндвич-панели, монолитные ламинаты Равномерное температурное поле, выявление расслоений на разной глубине Малоэффективно для пенистых структур и некоторых защитных покрытий
Вакуумное Сотовые конструкции, обшивки с плавной геометрией, сосуды давления Высокая чувствительность к непроклеям и отслоениям Требуется специальная вакуумная система, сложность для объектов сложной формы
Механическое Локальный контроль конкретных зон, контроль клеевых соединений Простота реализации, контролируемое усилие Точечное воздействие, возможность повреждения при избыточном усилии
Вибрационное Динамический анализ, модальный анализ конструкций Выявление дефектов при рабочих режимах нагружения Требуется специальное вибрационное оборудование
Согласно ASTM E2581-14(2023), выбор метода нагружения определяется типом материала, размером дефектов и глубиной их залегания.
Таблица 3. Типы дефектов, выявляемых методом шеарографии
Тип дефекта Описание Типичная область обнаружения
Расслоения (деламинация) Нарушение межслоевой связи между слоями препрега Монолитные ламинаты, зоны концентрации напряжений, места ударных повреждений
Непроклеи Отсутствие или недостаточная адгезия клеевого слоя Клеевые соединения, сотовые панели, зоны склейки обшивки с заполнителем
Нарушения сплошности (дисбонды) Потеря адгезии между компонентами структуры Сэндвич-конструкции, композитные обшивки, зоны соединений
Воздушные включения Воздушные пузыри и поры в матрице или на границе слоев Зоны недостаточного уплотнения, области с нарушением вакуумирования
Микротрещины Трещины в матрице или на границе волокно-матрица Зоны усталостных повреждений, области термических циклов
Схлопывание сот Деформация или разрушение ячеек сотового заполнителя Сэндвич-панели с сотовым заполнителем после ударных нагрузок
Вариации толщины Неоднородность толщины клеевого слоя или отдельных слоев Клеевые швы, зоны с неравномерной укладкой препрега
Данные основаны на ГОСТ Р 56795-2015 и практическом опыте применения метода в аэрокосмической отрасли.

Физические основы метода шеарографии

Шеарография представляет собой разновидность электронной спекл-интерферометрии, предназначенную для бесконтактного неразрушающего контроля изделий из композитных материалов. Термин происходит от английского слова shear (сдвиг), что отражает ключевую особенность метода: регистрацию производных от компонент вектора перемещений поверхности объекта. Данный подход обеспечивает нечувствительность к перемещениям исследуемого объекта как жесткого целого, включая вибрационные воздействия.

Физический принцип метода базируется на явлении интерференции когерентного лазерного излучения, отраженного от диффузно-рассеивающей поверхности композита. При облучении исследуемого объекта когерентным светом возникает характерная спекл-картина — случайное распределение светлых и темных пятен, обусловленное интерференцией световых волн с различными сдвигами фаз. Каждый спекл несет информацию о локальном состоянии поверхности в момент экспозиции.

Ключевое отличие шеарографии от классической голографической интерферометрии заключается в том, что метод регистрирует не абсолютные перемещения поверхности, а их производные (градиенты). Это достигается путем создания оптического сдвига между двумя изображениями одной и той же точки объекта. В результате метод становится значительно менее чувствительным к внешним вибрациям и жестким перемещениям объекта, что критически важно для промышленного применения.

Важно для операторов

Спекл-структура формируется только при облучении поверхности когерентным излучением. Оптимальными для контроля являются материалы с диффузно-отражающими поверхностями: композиты на основе углеродных и стеклянных волокон, керамические матричные композиты, большинство полимерных матриц. Зеркальные поверхности требуют предварительной подготовки.

Принцип работы и оптическая схема

Типовая установка шеарографии построена на базе интерферометра Майкельсона с поворотным зеркалом, обеспечивающим необходимый оптический сдвиг. Источником излучения служит гелий-неоновый лазер с длиной волны 632,8 нанометра или современный диодный лазер с длиной волны в диапазоне 532-650 нанометров. Лазерный пучок расширяется с помощью оптической системы и направляется на исследуемую поверхность под углом, обеспечивающим оптимальное формирование спекл-картины.

Отраженное от поверхности излучение проходит через интерферометрическую систему, которая формирует два изображения каждой точки объекта, смещенных относительно друг друга на заданную величину. Эти два изображения попадают на одну и ту же точку матрицы высокоразрешающей видеокамеры, создавая интерференционную картину. Величина оптического сдвига обычно составляет несколько миллиметров и выбирается в зависимости от размера дефектов и требуемой чувствительности.

Процедура измерения

Процесс шеарографического контроля состоит из нескольких последовательных этапов. На первом этапе регистрируется опорное изображение объекта в ненагруженном состоянии. Затем на объект воздействуют внешней нагрузкой (тепловой, вакуумной, механической или вибрационной), вызывающей малые деформации поверхности. После приложения нагрузки регистрируется второе изображение того же участка поверхности.

Специализированное программное обеспечение выполняет цифровое вычитание двух спекл-интерферограмм с компенсацией линейной составляющей изменения формы объекта, связанной с тепловым расширением или общей деформацией. Результирующая картина, называемая шеарограммой, визуализируется в виде системы интерференционных полос. Каждая полоса соответствует изменению производной деформации на величину, кратную половине длины волны используемого лазера.

Критический параметр

Величина прикладываемой нагрузки должна быть строго контролируемой и не превышать безопасных пределов для исследуемой конструкции. Чрезмерное нагружение может привести к декорреляции спекл-картины или развитию существующих дефектов.

Методы нагружения объектов контроля

Тепловое нагружение

Тепловое воздействие с помощью инфракрасных ламп является наиболее распространенным методом нагружения при контроле полимерных композитов. Принцип основан на различии коэффициентов теплового расширения дефектной и бездефектной областей материала. При нагреве участки с расслоениями, непроклеями или включениями демонстрируют аномальные деформации поверхности, которые регистрируются как характерные паттерны на шеарограмме.

Метод особенно эффективен для углепластиков, стеклопластиков и сэндвич-конструкций с различными типами заполнителей. Типичный нагрев составляет до 15 градусов Цельсия относительно комнатной температуры. Нагрев может осуществляться как с фронтальной стороны объекта, так и с тыльной, что позволяет выявлять дефекты на различной глубине залегания.

Вакуумное нагружение

Вакуумное нагружение реализуется путем создания разрежения между контролируемой поверхностью и герметичной прозрачной камерой. Метод обеспечивает равномерное распределение нагрузки по поверхности и высокую чувствительность к дефектам типа отслоений и непроклеев в сотовых панелях. Типичное рабочее разрежение составляет от 50 до 150 миллибар, что эквивалентно 5-15 килопаскалей.

Особенностью вакуумного метода является возможность контроля обшивок с плавными криволинейными поверхностями и сосудов давления, изготовленных намоткой. Для объектов сложной геометрии применяются специализированные вакуумные камеры с гибкими мембранами, повторяющими контуры изделия. Время экспозиции варьируется от нескольких секунд до минуты в зависимости от материала и толщины конструкции.

Комбинированные методы

В ряде случаев для повышения достоверности контроля применяют комбинированное воздействие различными типами нагрузок. Например, последовательное термовакуумное нагружение позволяет выявить дефекты, которые могут быть пропущены при использовании только одного метода. Вибрационное нагружение применяется для модального анализа конструкций и выявления зон с пониженной жесткостью, что особенно актуально для авиационных компонентов.

Применение для контроля композиционных материалов

Монолитные ламинаты

При контроле монолитных композитных ламинатов из углепластика или стеклопластика шеарография эффективно выявляет межслоевые расслоения, возникающие как в процессе производства, так и при эксплуатации. Метод чувствителен к дефектам размером от 10 миллиметров и более для приповерхностных повреждений, причем минимальный размер выявляемого дефекта зависит от его глубины залегания и разрешающей способности оптической системы.

Типичные производственные дефекты, обнаруживаемые в ламинатах, включают зоны непропитки волокон связующим, воздушные включения между слоями, локальные отслоения из-за загрязнений на препреге, а также участки с неправильной ориентацией волокон. Эксплуатационные дефекты представлены ударными повреждениями с внутренними расслоениями при отсутствии видимых внешних признаков, усталостными трещинами в матрице и расслоениями в зонах концентрации напряжений.

Сэндвич-конструкции

Сэндвич-панели с сотовым заполнителем из алюминия или полимерных материалов представляют особый интерес для шеарографического контроля. Метод позволяет выявить отслоения обшивок от заполнителя, схлопывание ячеек сотового заполнителя, попадание влаги в соты, трещины в сотовом заполнителе параллельно контролируемой поверхности. Оптимальным методом нагружения для таких структур является вакуумное воздействие в сочетании с тепловым.

Критическими зонами сэндвич-панелей, требующими повышенного внимания, являются области вблизи вырезов и технологических отверстий, зоны установки крепежных элементов, периферийные участки панелей с окантовкой, места соединений с силовым набором. Шеарография обеспечивает быстрое сплошное сканирование больших поверхностей панелей, что недостижимо для традиционных ультразвуковых методов с поточечным контролем.

Сосуды давления с композитной оболочкой

Контроль композитных сосудов давления, изготовленных методом намотки волокнами, регламентируется специализированным стандартом ASTM E2982. Для таких объектов применяется методика внутреннего гидростатического нагружения в сочетании с оптической регистрацией деформаций внешней поверхности. Метод выявляет расслоения между слоями намотки, дефекты пропитки, зоны с неравномерным натяжением волокон, повреждения в областях полюсов и экватора.

Нормативная база и стандарты

Основным международным стандартом, регламентирующим применение шеарографии для контроля полимерных композитов, является ASTM E2581-14(2023). Данный стандарт описывает установленные практики шеарографического контроля композитов с полимерной матрицей и материалов внутреннего слоя сэндвич-конструкций в аэрокосмических применениях. Стандарт охватывает композиты, содержащие непрерывные высокомодульные волокна с модулем упругости более 20 гигапаскалей, а также дискретные волокна, ткани и дисперсное армирование.

В Российской Федерации действует национальный стандарт ГОСТ Р 56795-2015, адаптированный к отечественным условиям производства и контроля композитов. Стандарт устанавливает требования к оборудованию, процедурам контроля, квалификации персонала и документированию результатов. Для общих вопросов неразрушающего контроля композитов применяется ГОСТ Р 56787-2015, который включает шеарографию в комплекс рекомендуемых методов наряду с ультразвуковым, радиационным и тепловизионным контролем.

Дополнительную информацию о преимуществах и ограничениях метода содержит стандарт ASTM E2533, который предоставляет руководство по выбору метода неразрушающего контроля для конкретных типов композитных материалов и дефектов. Данный документ помогает операторам определить оптимальную стратегию контроля с учетом геометрии изделия, типа матрицы и армирования, условий эксплуатации.

Требования к персоналу

Операторы шеарографических систем должны пройти специализированное обучение и аттестацию в соответствии с требованиями стандартов по неразрушающему контролю. Необходимы знания в области оптики, интерферометрии, свойств композитных материалов и интерпретации интерференционных картин. Рекомендуется регулярное повышение квалификации с учетом развития технологий цифровой обработки изображений.

Преимущества и ограничения метода

Преимущества шеарографии

Ключевым преимуществом метода является полномасштабность контроля: возможность одновременного анализа всей видимой поверхности объекта без необходимости поточечного сканирования. Это обеспечивает высокую производительность контроля больших конструктивных элементов, таких как панели обшивки самолетов, лопасти ветрогенераторов, корпусные детали автомобилей. Бесконтактный характер метода исключает необходимость применения контактных жидкостей и позволяет контролировать объекты с чувствительными поверхностями.

Нечувствительность к жестким перемещениям и вибрациям объекта делает метод пригодным для применения в производственных условиях без специальных виброизолированных помещений. Регистрация производных деформаций обеспечивает высокую чувствительность к локальным изменениям жесткости, что критично для выявления подповерхностных дефектов в слоистых материалах. Возможность работы в реальном времени с частотой видеорегистрации позволяет наблюдать динамику развития деформаций при изменении нагрузки.

Ограничения метода

Основным ограничением шеарографии является сложность определения глубины залегания дефектов. Метод регистрирует поверхностные проявления внутренних дефектов, но не позволяет напрямую измерить расстояние от поверхности до дефекта. Для оценки глубины требуется применение специальных алгоритмов обработки или комбинирование с другими методами контроля, например ультразвуковой дефектоскопией.

Высокие требования к квалификации персонала обусловлены необходимостью правильной настройки оптической системы, выбора оптимального типа и величины нагрузки, корректной интерпретации интерференционных картин. Автоматизированные системы для поточного контроля крупногабаритных изделий характеризуются значительной стоимостью оборудования и сложностью обслуживания. Метод требует оптимизации параметров контроля для каждого типа материала и конструкции, что увеличивает время подготовки к контролю новых изделий.

Зеркальные и глянцевые поверхности создают трудности для формирования качественной спекл-картины и могут требовать предварительной обработки поверхности напылением тонкого матирующего покрытия. Прозрачные или полупрозрачные материалы не могут контролироваться стандартными методами отражательной шеарографии без специальной адаптации методики.

Часто задаваемые вопросы

Основное отличие заключается в том, что шеарография регистрирует производные от компонент вектора перемещений поверхности, а не абсолютные перемещения. Это достигается путем создания оптического сдвига между двумя изображениями одной точки объекта. В результате метод становится нечувствительным к жестким перемещениям объекта и вибрациям, что критично важно для промышленного применения в условиях производства.
Минимальный выявляемый размер дефекта зависит от множества факторов: глубины его залегания, типа дефекта, свойств материала, разрешения оптической системы и величины прикладываемой нагрузки. Для приповерхностных дефектов в типовых промышленных системах минимальный размер составляет около 10-15 миллиметров. С увеличением глубины залегания минимальный выявляемый размер возрастает. Современные оптимизированные системы при специальной настройке могут детектировать субмиллиметровые дефекты.
Да, шеарография успешно применяется для эксплуатационного контроля композитных конструкций. Портативные шеарографические системы позволяют проводить инспекцию непосредственно на объекте без демонтажа конструкций. Это особенно актуально для авиационной техники, где метод используется для выявления повреждений композитных панелей фюзеляжа и крыла, возникших в процессе эксплуатации, включая ударные повреждения от столкновений с посторонними объектами.
Для большинства композитных материалов с матовой или полуматовой поверхностью специальная подготовка не требуется. Достаточно очистить поверхность от загрязнений и пыли. Однако зеркальные и глянцевые поверхности могут требовать нанесения тонкого матирующего покрытия методом напыления для обеспечения качественного формирования спекл-картины. Покрытие должно быть равномерным, тонким и не влиять на деформационное поведение контролируемого объекта.
Для сотовых панелей наиболее эффективным является вакуумное нагружение, которое обеспечивает равномерное распределение нагрузки по поверхности и высокую чувствительность к отслоениям обшивки от заполнителя. Альтернативно может применяться комбинированное термовакуумное воздействие, когда сначала проводится тепловое нагружение для выявления расслоений в обшивке, а затем вакуумное для проверки адгезии к заполнителю. Выбор метода зависит от конкретной конструкции панели и типа ожидаемых дефектов.
Прямое определение глубины залегания дефекта по шеарограмме затруднено, так как метод регистрирует только поверхностные проявления внутренних дефектов. Однако существуют косвенные методы оценки глубины, основанные на анализе формы и интенсивности интерференционных полос, а также на применении различных типов и величин нагрузки. Для точного определения глубины дефектов рекомендуется комбинировать шеарографию с ультразвуковыми методами контроля.
↑ Наверх
Появились вопросы?

Вы можете задать любой вопрос на тему нашей продукции или работы нашего сайта.